目前國(guó)內(nèi)微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀等微機(jī)繼電保護(hù)產(chǎn)品自檢內(nèi)容，按照是否需要引入模擬量和開(kāi)入量進(jìn)行自檢可以分為兩類：

 

(1)需要引入模擬量和開(kāi)入量進(jìn)行的自檢：如①開(kāi)入回路自檢；②數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)自檢；③二次回路異常運(yùn)行狀況的檢測(cè)。

 

(2)不需要引入模擬量和開(kāi)入量進(jìn)行的自檢：如①各種存儲(chǔ)器的自檢；②程序正確性自檢；③開(kāi)出回路自檢；④開(kāi)關(guān)電源電壓異常自檢。

 

2、幾種自檢功能的實(shí)現(xiàn)方法

 

①開(kāi)入回路自檢

 

(1)兩個(gè)以上的開(kāi)入量相互矛盾。如：TWJ、HWJ同時(shí)存在或同時(shí)不存在。TWJ、HWJ同時(shí)存在可反映開(kāi)入回路異常；TWJ、HWJ同時(shí)不存在可反映控制回路斷線。

(2)不應(yīng)長(zhǎng)期存在的開(kāi)入量長(zhǎng)期存在。如：手合、收訊輸入、信號(hào)復(fù)歸、單跳、三跳起動(dòng)重合閘等開(kāi)入信號(hào)長(zhǎng)期存在，可反映開(kāi)入回路異常。

(3)開(kāi)入量與模擬量矛盾。如：TWJ動(dòng)作同時(shí)檢測(cè)到有負(fù)荷電流，可反映開(kāi)入回路異常。

 

②開(kāi)出回路自檢

 

(1)開(kāi)出或反饋光隔(三極管)擊穿。無(wú)開(kāi)出命令，而反饋端有電位的變化。其檢測(cè)分為上電自檢和運(yùn)行中自檢兩個(gè)階段，一般均能實(shí)時(shí)檢測(cè)。

 

(2)開(kāi)出或反饋光隔(三極管)斷線。有開(kāi)出命令，而反饋端沒(méi)有電位的變化。其檢測(cè)分為上電自檢和運(yùn)行中自檢兩個(gè)階段，一般運(yùn)行中采用定時(shí)檢測(cè)的方法。

 

③數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)異常自檢

 

　　對(duì)A/D型變換器可以通過(guò)多路轉(zhuǎn)換器為A/D轉(zhuǎn)換器預(yù)留一個(gè)檢測(cè)通道，該通道接有標(biāo)準(zhǔn)電平，定時(shí)讀取標(biāo)準(zhǔn)電平經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換的數(shù)值來(lái)檢查A/D轉(zhuǎn)換器的正確性和精度。

 

④程序正確性自檢

 

　　目前國(guó)內(nèi)在微機(jī)繼電保護(hù)產(chǎn)品程序正確性自檢方面多采用CRC校驗(yàn)和ROMH校驗(yàn)兩種方法：

 

(1)CRC

　　CRC校驗(yàn)碼常用的有16位校驗(yàn)碼和8位校驗(yàn)碼兩種。

　　16位校驗(yàn)碼采用標(biāo)準(zhǔn)化組織ISO制定的HDLC標(biāo)準(zhǔn)CRC校驗(yàn)碼，它的生成用字節(jié)1至字節(jié)N＋3構(gòu)成的信息碼多項(xiàng)式F(x)除以生成多項(xiàng)式G(x)所得余數(shù)高低位反順序的結(jié)果。

 

(2)ROMH

 

　　采用求和尾碼校驗(yàn)法，按照事先規(guī)定的地址空間將程序代碼累加，溢出不管，zui后的結(jié)果是某個(gè)和數(shù)的尾碼。取此尾碼與預(yù)定的數(shù)比較，來(lái)判斷程序字是否保持正確，根據(jù)使用的字節(jié)為8位還是16位累加，可以得到一個(gè)長(zhǎng)度為8位或者16位的校驗(yàn)碼。